更新時間：2024-11-09
金屬高溫導熱系數測試儀 型號：DRJ-I該儀器采用試樣直接通電縱向熱流法，于80°～900℃溫度范圍內測量金屬無相變溫度下的導熱系數，由計算機自動完成測試。滿足了材料檢測研究部門對金屬材料導熱系數的測試要求。儀器參考標準：GB/T3651-2008《金屬高溫導熱系數測量方法》。
金屬高溫導熱系數測試儀 型號：DRJ-I
該儀器采用試樣直接通電縱向熱流法，于80°～900℃溫度范圍內測量金屬無相變溫度下的導熱系數，由計算機自動完成測試。滿足了材料檢測研究部門對金屬材料導熱系數的測試要求。儀器參考標準：GB/T3651-2008《金屬高溫導熱系數測量方法》。
金屬高溫導熱系數測試儀 主要技術指標
1、 導熱系數測試范圍：5～400W/m·K；
2、 準確度：優于5%；
3、 對實驗溫度實現可控狀態下的測試，電爐高溫度1000℃；
4、 電源：220V，50HZ；
5、 連接上位機，實現計算機自動測試、實現數據打印輸出；
6、 試樣尺寸要求：棒狀試樣：Ф3-5×220（mm）
絲狀試樣：Ф1-3×20-45（mm）
 | 產品名稱：數字式四探針測試儀 產品型號：SZT-1 |
數字式四探針測試儀型號：SZT-1
SZT-1型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理 的多用途綜合測量裝置。它可以測量片狀、快狀半導體材料徑向和軸向電阻率，測量片狀半導體材料的電阻率和擴散層的薄層電阻（方塊電阻），換上特制的四探針測試夾，還可以對金屬導體的低中值電阻進行測量。此外，探針經過特殊加工后，還可以測量薄膜材料電阻率。廣泛于半導體材料、器件廠、高等院?；瘜W物理系、科研單位，對半導體材料的電阻性能測試。
本儀器測試探頭采用寶石導向軸套和高耐磨碳化鎢探針，定位準確，游移率小，使用壽命長。
SZT-1型數字式四探針測試儀技術參數：
1． 測量范圍：
電阻率：10的-4次方~10的3 次方Ω-cm
方塊電阻：10的-3次方 ~10的4 次方Ω/□
電阻：10的-6次方 ~10的5 次方Ω
導電類型鑒別：電阻率范圍 10的-4 次方~10 的3次方Ω—cm
2． 可測半導體材料尺寸
直徑：φ15~100 mm
長度：≤400mm
3． 測量方法：
軸向、斷面均可
4． 顯示方式：31/2,數顯,性、過載自動顯示，小數點、單位自動顯示。
5． 恒流源：
（1） 電流輸出：直流電流0~100 mA連續可調。
（2） 量程：10、100μA、1、10、100mA
（3） 誤差：±0.5%讀數±2個字
6.四探針測試探頭
(1) 探針間距:1mm
(2) 材料:碳化鎢.探針機械游移率:±1.0%
7.電源:220±10% 50Hz或60Hz 功耗:＜35W
便攜式聲波測厚儀 聲波測厚儀 型號：TT340 |
